透過電子顕微鏡
日本電子社製JEM-2010

 

機器コード: IM014
機器カテゴリー:
利用形態:
 

 

機器の説明

  材料開発や物性研究に欠かせない、汎用性の高い電子顕微鏡。200kVの加速電圧を持ち分解能が~2.5Åの透過型電子顕微鏡に元素分析機器が附属しており、試料の微細構造観察に加えて、ナノ領域においてCBED【収束電子回折】による結晶構造の精密解析(結晶の対称性,格子定数,格子欠陥の同定)やEDS【エネルギー分散型X線分析】による定量分析が行えます。これら顕微鏡像観察とナノ領域における精密分析はワンタッチで切り替えできます。

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設置場所 総合理工学部
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