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磁気特性測定システム 米国カンタムデザイン社製 MPMS3
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低温物性測定システム 米国カンタムデザイン社製 PPMS
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磁気特性測定システム 米国カンタムデザイン社製 MPMS
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走査型電子顕微鏡 日本電子製 JSM-7001FA
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透過電子顕微鏡 日本電子社製JEM-2010
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３Ｄ顕微レーザーラマン分光システム 東京インスツルメンツ社 Nanofinder30 NF30-G2-AFM-NUV/VIS-SI01
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Ｘ線回折装置 Rigaku SmartLab
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Ｘ線回折装置 Rigaku RINT-RAPID II
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Ｘ線回折装置 理学電機 RINT SmartLab SE
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単結晶ラウエカメラ ラウエカメラ＋X線発生装置
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フルオロ・イメージ解析システム 英国GEﾍﾙｽｹｱ社製 Typhoon FLA7000，FLA Image Eraser
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薄膜材料結晶性解析X線回折装置 フィリップス社 X'Pert PRO MRD
