磁気特性測定システム 米国カンタムデザイン社製 MPMS3 
低温物性測定システム 米国カンタムデザイン社製 PPMS 
磁気特性測定システム 米国カンタムデザイン社製 MPMS 
走査型電子顕微鏡 日本電子製 JSM-7001FA 
透過電子顕微鏡 日本電子社製JEM-2010 
３Ｄ顕微レーザーラマン分光システム 東京インスツルメンツ社 Nanofinder30 NF30-G2-AFM-NUV/VIS-SI01 
Ｘ線回折装置 Rigaku SmartLab 
Ｘ線回折装置 Rigaku RINT-RAPID II 
Ｘ線回折装置 理学電機 RINT SmartLab SE 
単結晶ラウエカメラ ラウエカメラ＋X線発生装置 
フルオロ・イメージ解析システム 英国GEﾍﾙｽｹｱ社製 Typhoon FLA7000，FLA Image Eraser 
薄膜材料結晶性解析X線回折装置 フィリップス社 X'Pert PRO MRD
